Atomic-force microscopy (AFM)

AFM XE-100

XE-100은 낮은 표류도와 Step-and-Scan 자동화 기능을 갖춘 대표급 원자현미경으로서 비접촉 나노 규모 계측의 AFM/SPM 성능을 극대화했습니다.
재료과학, 폴리머, 전기화학 및 나노과학/공학의 기타 응용 분야를 위한 중간 가격대의 시스템입니다. 측면이 개방되어 있으므로 광범위한 광학적 연동이 가능합니다.

교차간섭 제거를 통한 아티팩트 없는 이미징
▶ 시료와 팁에 2개의 독립된 클로즈드 루프 XY 및 Z 플랙셔 스캐너 사용
▶ 전체 스캔 범위에서 2nm 미만의 평면 외 움직임
▶ 잔여 굴곡이 적은 최대 100μm x 100μm의 평면 선형 XY 스캔
▶ 고출력 스캐너로 최대 25μm의 Z 스캔
▶ 정확한 높이 측정
▶ 분당 0.5nm 미만의 낮은 표류도

완전 비접촉 모드TM의 탁월한 원자현미경 분해능
▶ 압전 튜브보다 10배 넓은 Z 스캔 대역폭
▶ 팁 마모를 줄여 장시간 동안 고해상도로 측정 가능
▶ 시료 손상 또는 변형 최소화
▶ 태핑 이미징과 달리 결과가 외부 변수에 좌우되지 않음

사용자의 편의를 위한 EZ 설계
▶ 팁과 시료에 폭넓게 접근 가능
▶ 스냅식 팁 교환 및 EZ 레이저 빔 정렬
▶ 헤드를 손쉽게 분리할 수 있는 열장식 잠금 장착부
▶ 고해상도 광학 관찰을 위한 직접 관찰 광학장치
▶ 전동식 광학 스테이지

모듈식 플랫폼과의 완벽한 옵션 호환성
▶ 전체 SPM 모드 및 옵션
▶ 광학적 연동을 위한 측면 입구
▶ Step-and-Scan 자동화 측정이 가능한 전동식 시료 스테이지


Park XE-100 AFM
(Distributor: SCHAEFER Technologie GmbH)
Specifications:
Maximum scan size: 50 μm xy-scanner
12 μm z-scanner
Z-scanner decoupled from xy-scanner.
Drive modes: contact, intermittent contact, true non-contact.
Image modes: topography, deflection/amplitude, z-extension, phase, lateral force.
Motorised optics stage and high-resolution CCD camera.
Accessories: fluid cell (open and closed) with heating/cooling stage and
temperature controller (0-60°C), active anti-vibration table,
acoustic enclosure.